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本文標(biāo)題："斜率誤差可直接測(cè)量得到或從干涉條紋中計(jì)算"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2018-5-26 1:54:27 本站主頁(yè)地址：http://www.vndmy.cn
斜率誤差可直接測(cè)量得到或從干涉條紋中計(jì)算
斜率誤差直接取決于波陣面的形狀．而不是其相位。因
此，當(dāng)TWF和RWF的值與波紋度的空間頻率無(wú)關(guān)時(shí)，斜率
誤差與波紋度空間頻率成正比。
斜率誤差可以直接測(cè)量得到或從干涉條紋中計(jì)算出來(lái)。
斜率直接測(cè)量法對(duì)相位不敏感，但比采用干涉測(cè)量法更快
捷、更便宜。
系統(tǒng)誤差的評(píng)測(cè)相對(duì)簡(jiǎn)單，因?yàn)?/div>
每個(gè)因素的誤差貢獻(xiàn)可以通過(guò)和方根(RSS)方法進(jìn)行分配。
傳統(tǒng)的全口徑光學(xué)制造方法產(chǎn)生較少的波紋度，這導(dǎo)致
子孔徑的加工方法也相當(dāng)有保證．如磁流變拋光(MRF)、射
流拋光、柔性拋光或單點(diǎn)金剛石車(chē)削。由于這些加工設(shè)備的
使用越來(lái)越普遍，斜率測(cè)量?jī)x器也廣為人知，非球面偏離量
也在增加，我們期望在車(chē)間能有更多斜率公差可供參考。
空間頻率帶寬的選擇是相對(duì)的，它必須始終與測(cè)量?jī)x器
的測(cè)量能力相匹配。
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